Abstract

Get full access to this article
View all access options for this article.
References
1.
Chong
C. K.
Shen
C.
Fong
Y.
Zhu
J.
Yan
F.-X.
Brush
S.
Mann
C. K.
and
Vickers
T. J
, Vibr. Spectrosc. 3 , 35 (1992 ).
2.
Newman
C. D.
Bret
G. G.
and
McCreery
R. L
, Appl. Spectrosc. 46 , 262 (1992 ).
3.
Battey
D. E.
Slater
J. B.
Wludyka
R.
Owen
H.
Pallister
D. M.
and
Morris
M. D
, Appl. Spectrosc. 47 , 1913 (1993 ).
4.
Chase
B.
, Appl. Spectrosc. 48 , 14A (1994 ).
5.
Gilmore
D. A.
Gurka
D.
and
Denton
M. B
, Appl. Spectrosc. 49 , 508 (1995 ).
6.
Myrick
M. L.
and
Angel
S. M
, Appl. Spectrosc. 44 , 564 (1990 ).
7.
Bello
J. M.
and
Vo-Dinh
T
, Appl. Spectrosc. 44 , 63 (1990 ).
8.Spectroscopy and Diffraction Technique in Interfacial Electrochemistry ,
Gutierrey
C.
and
Melenders
C
, Eds. (Kluwer , Boston , 1988 ).
9.
Carrabba
M. M.
and
Rauh
R. D
, U.S. Patent 5,112,127 (1992 ).
10.
Archibald
D. D.
Lin
L. T.
and
Honigs
D. E
, Appl. Spectrosc. 42 , 1558 (1988 ).
11.
Soper
S. A.
and
Kuwana
T
, Appl. Spectrosc. 43 , 1180 (1989 ).
12.
Ma
J. Y.
and
Li
Y. S
, Appl. Spectrosc. 48 , 1529 (1994 ).
13.
Li
Y. S.
and
Wang
Y
, Appl. Spectrosc. 46 , 142 (1992 ).
