Abstract
SYNOPSIS IN INTERLINGUA MESURATIONES DEL STRESS STATIC IN CEMENTO A SILICATO.—Un recentemente disveloppate microtransductor de un diametro externe de 0,05 pollices esseva includite in specimens de proba a silicato standard. Le stress interne del silicato esseva registrate e notate in papiro graphic ab le microtransductor. Illo esseva (in le caso de silicato) equal al resistentia a compression in le specimen. Differente revestimentos superficial esseva applicate al specimens, e il esseva trovate que le stress interne e le resistentia a compression variava grandemente con le varie revestimentos. Interne stresses pote esser mesurate sin sacrificar le specimen. Il pare justificate predicer extense possibilitates de applicar iste micre dispositivo de registration pressural al examine de altere materiales de restauration dental.
Get full access to this article
View all access options for this article.